ATE测试是一种用于测试和验证电子设备和芯片的自动化测试方法,是有测试仪器和计算机组合而成的测试系统,主要由硬件(如工业电脑、可编程电源、负载、功率表、示波器等)、测试软件、测试接口(CMV海量互连)和测试治具组成。
1、电子设备或芯片的研发阶段,需要验证其是否符合设计要求
2、生产阶段,需要对生产处的产品进行质量检测和筛选
3、售后服务阶段,需要对维修或更换的设备或芯片进行测试和验证
半导体测试
晶圆测试(Wafer Probe):检测芯片制造中的缺陷。
封装测试(Final Test):验证芯片功能及电气参数。
电子产品量产测试
手机主板功能测试(蓝牙、Wi-Fi、传感器校准)。
电源模块效率测试(转换效率≥90%)。
汽车电子可靠性验证
ECU通信总线(CAN/LIN)稳定性测试。
电池管理系统(BMS)老化测试。
航空航天高可靠测试
卫星组件抗辐射性能测试。
航空电子设备在振动环境下的信号完整性验证。